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ZJD高频介电常数介质损耗测试仪

简要描述:ZJD高频介电常数介质损耗测试仪适用于绝缘导热硅胶,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光学胶,环氧树脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龙/涤纶,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等

  • 产品型号:ZJD-C
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2023-12-11
  • 访  问  量: 1508

详细介绍

品牌其他品牌价格区间面议
产地类别国产应用领域地矿,能源,建材,电子,交通

ZJD高频介电常数介质损耗测试仪

产品适用范围

适用于绝缘导热硅胶,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光学胶,环氧树脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龙/涤纶,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA

特点

●双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。

●双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。
●双数码化调谐 - 数码化频率调谐,数码化电容调谐。
●自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。
●全参数液晶显示数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。

DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真,频率的幅度的高稳定。

●计算机自动修正技术和测试回路0优化 —使测试回路 残余电感减至0低,** Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。

●电感测试时,设备自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能,提高了电感值(特别是小电感值)测量的精度。此功能为北京智德创新公司生产的Q表。
技术参数

ZJD高频介电常数介质损耗测试仪

型号

ZJD-B

ZJD-A

ZJD-C

信号源范围DDS数字合成信号

10KHZ-70MHz

10KHZ-110MHz

100KHZ-160MHz

信号源频率覆盖比

7000:1

11000:1

1600:1

信号源频率精度 6位有效数

3×10-5 ±1个字

3×10-5 ±1个字

3×10-5 ±1个字

Q测量范围

1-1000自动/手动量程

1-1000自动/手动量程

1-1000自动/手动量程

Q分辨率

4位有效数,分辨率0.1

4位有效数,分辨率0.1

4位有效数,分辨率0.1

Q测量工作误差

<5%

<5%

<5%

电感测量范围 4位有效数,分辨率0.1nH

1nH-8.4H , 分辨率0.1nH

1nH-8.4H 分辨率0.1nH

1nH-140mH分辨率0.1nH

电感测量误差

<5%

<5%

<5%

调谐电容

主电容30-500pF

主电容30-500pF

主电容17-240pF

电容直接测量范围

1pF2.5uF

1pF2.5uF

1pF25nF

调谐电容误差

分辨率

±1 pF<1%

0.1pF

±1 pF<1%

0.1pF

±1 pF<1%

0.1pF

谐振点搜索

自动扫描

自动扫描

自动扫描

Q合格预置范围

5-1000声光提示

5-1000声光提示

5-1000声光提示

Q量程切换

自动/手动

自动/手动

自动/手动

LCD显示参数

FLCQLtCt波段等

FLCQLtCt波段等

FLCQLtCt波段等

自身残余电感和测试引线电感的

自动扣除功能

(*)


大电容值直接测量显示功能

测量值可达2.5uF

测量值可达2.5uF

测量值可达25nF


结构概述

介电常数介质损耗测试仪由平板电容器组成,平板电容器一般用来夹被测样品,介电常数及介质损耗测试系统的主机则是一台阻抗测量设备(高频Q表)。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。






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